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產(chǎn)品詳情
半導體中空玻璃露點(diǎn)儀產(chǎn)品用途:用于檢測中空玻璃露點(diǎn)測試。
半導體中空玻璃露點(diǎn)儀產(chǎn)品適用標準:GB/T11944-2012《中空玻璃》
半導體中空玻璃露點(diǎn)儀技術(shù)參數:
1、冷測頭的溫度:<-60℃
2、溫度分辨率:0.1℃
3、測試箱 長(cháng)×寬×高(mm):1040×550×820
4、測溫精度:±0.5℃
5、時(shí)間范圍:1~10min(可任意設定)
6、時(shí)間分辨率:1s
7、配帶動(dòng)力:交流220V, 功率:0.6Kw
8、自重:40kg
半導體中空玻璃露點(diǎn)儀主要特點(diǎn):
1、運用先進(jìn)的復迭式壓縮機制冷技術(shù);
2、操作簡(jiǎn)單,顯示直觀(guān)。
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